MEM卡:动态检影
中央有一个窥孔的测试卡安装在普通检影镜上,检查者从窥孔中观察被测者的接近视轴的反光影动,
在MEM动态检影法时,通过判断检影反光的宽度.速度和亮度确定调节滞后的量,测试卡和检影镜离被测者的眼镜平面同一距离,通常40CM,被测者的远距屈光度矫正置于试镜架上或综合验光仪上,
如果检影镜以平行光或发散光反射的形式,则顺动表示调节滞后,逆动表示调节超前,中和现象表示调节刺激和调节反应相等.
温馨提示：
微信扫码关注公众号
获取更多考试热门资料
